Doctor en Ciencias en Control Automático por parte de la Universidad de Sheffield, Inglaterra (2010). Maestro en Ciencias en Ingeniería Electrónica por el Centro Nacional de Investigación y Desarrollo Tecnológico (2006) siendo el mejor promedio de su generación. Ingeniero en Electrónica por el Instituto Tecnológico de Mérida (2003), obteniendo el reconocimiento como el mejor promedio de su generación, así como el reconocimiento por la excelencia académica por parte de la Asociación Nacional de Facultades y Escuelas de Ingeniería (ANFEI).

Es miembro del Sistema Nacional de Investigadores Nivel 2. Ha desarrollado varios proyectos de investigación como Responsable Técnico y como colaborador financiados por el Conacyt, Prodep, TecNM y la industria. Estos proyectos incluyen Cátedras Patrimoniales Conacyt, proyecto de Infraestructura Conacyt, Problemas Nacionales Conacyt, Programa de Estímulo a la Innovación, entre otros. Sus áreas de interés es el control predictivo, el diagnóstico de fallas, control tolerante a fallas y sus aplicaciones a diferentes sistemas físicos. A la fecha, su producción académica es de más de 50 artículos indexados en el JCR y diversas participaciones en congresos nacionales e internacionales; 3 libros editados; 1 patente en comercialización y 5 desarrollos tecnológicos avalados por el SNI. En la formación de recursos humanos ha graduado a 16 estudiantes de maestría y 4 de doctorado. Asimismo, es líder del Cuerpo Académico ITHER-CA-05 Automatización y Electrónica Industrial, reconocido como Consolidado por el Prodep. También ha formado parte de comités nacionales e internacionales para la evaluación de propuestas de investigación, reportes finales de proyectos, programas de posgrado, becas al extranjero, estímulos al desempeño académico, entre otros.

Actualmente es Editor Asociado de IEEE Access (Q1), Int. Journal of Aerospace Engineering (Q3), IEEE Latin America Transactions (Q4) y ha sido Editor invitado en Processes (Q2) y Mathematical and Computational Applications. Estas revistas tienen impacto internacional y están indexadas en el JCR.